Duma Optronics LAM 光斑分析仪

Duma Optronics LAM 光斑分析仪

特点：

- 可安装到工作台上进行光斑测量。

 - 内置风冷采样器。

 - 业内领先的刀口系统

 - 特有的图像层析重建算法

 - 可测50微米到8毫米范围的光斑

 - 精确测量光斑轮廓、功率和位置

规格参数

传感器类型 硅基，使用刀口法测量技术 

光谱范围 硅: 350 - 1100 nm，可联系公司了解其他光谱范围 

刀片数 7个刀片，并使用图像层析重建技术 

光斑尺寸范围 50 微米至8 毫米 

光斑宽度分辨率 

光斑尺寸大于100微米时分辨率为1 微米 

光斑尺寸小于100微米时分辨率为0.1 微米 

光斑宽度测量精度 ±2% 

功率范围 最高4 kW (需要衰减片和高压空气风冷，可能会有 一些限制) 

功率测量精度 ±5% 

位置测量精度 ± 15 微米 

位置分辨率 1微米 

测量频率 5 Hz 

重量 传感器和电缆共约 1500 克 

接口 USB 3.0, windows 7/8/10 (32 & 64 位) 

最低硬件要求 CPU i3 1.6 GHz, 4 GB 内存 

可选配件 ND 光学衰减片 

最低硬件要求 CPU i3 1.6 GHz, 4 GB 内存, Windows 7/8/1